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SoC

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불량분석 (Failure Analysis) EOS Test, I-V Curve - 반도체 테스트 FA, EOS Test, I-V Curve, 불량분석(Failure Analysis) - 반도체 테스트 물건을 팔면 다가 아니다. 여기저기 시장에서 불량이라고 분석을 요구하는 곳이 엄청나게 많다. 일일이 다 대응해 줄 수 있는 것은 아니지만, 리포트를 요구하는 업체들이 있으면 상당히 곤란하다. 중소기업의 경우, 어쩔 수 없이 외부 업체에 의뢰를 맡길 수 밖에 없다. 아래에 소개된 Microchip의 경우를 보면 이 과정을 위해 Lab을 따로 마련하고 있어, 과정이 표준화 되어 있고 대응일정이 비교적 명확하다. (부러움 ^^;;;) 무튼, 대부분의 문제를 EOS 문제로 생각하고 대응하게 되는데, 테스트 (Electrical Overstress)는 반도체 부품, 회로에 초과된 전자기적 신호 및 과전압에 의해..
정전기 방전 손상모델및 시험방법 - ESD 반도체 테스트 자료 구글 검색 후 기술자료 모음 정전기 방전 손상모델및 시험방법정전기 방전 손상모델및 시험방법 - ESD 반도체 테스트 자료 전파기술원 2011.03 뉴스레터 자료 중 발췌된 내용 LG전자 정전기 교육 자료 2001 년도 자료로 연식이 좀 되었는데, 이쪽 기술이 고만고만해요.. 왜 발전이 느린지 회로내의 과전압,과전류(Surge)로 인한 IC 파괴 대부분의 IC불량 유형임 기타 기사들 그리고, 검색된 좋은 기사도 여기에 저장. [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 [SMT와 ESD 제어 기술 4] EOS/ESD 불량 분석, 이렇게 해결하라 www.hellot.net
[HDL] Test Bench 작성가이드 in Verilog 이것저것, 책도 인터넷도 뒤져봐도 기본이 중요 첨부된 자료정도면 기본 이해 뿐 아니라 왠만한 건 그냥 해결 가능 카운터 테스트를 예제로 해서 자세히 설명되어 있음. 반드시 숙지한 후 작업에 적용하기 원본 소스 : http://people.ece.cornell.edu/land/courses/ece5760/Verilog/LatticeTestbenchPrimer.pdf 꼴랑 10페이지니깐, 다 외울 수도 있겠다. 모듈 인스턴스 정의하고, 맵핑하고, 클럭 정의해서 기본으로 주는 부분. 추가로 디버깅을 위해 출력하는 예제 부분만 살짝 캡처 초초 기본이니깐 너무 큰 기대는 말고, 다들 짜요~~
(2018)[IDEC 연구원 교육] Cell-Based 설계 Flow 교육 (2018)[IDEC 연구원 교육] Cell-Based 설계 Flow 교육 그리고, IDEC 의 강의 리스트에도 이 자료의 소개가 있다. (2018)[IDEC 연구원교육] Cell-based flow 교육 - http://www.idec.or.kr/vod/apply/view/?&no=144 [강좌 개요] - 디지털 칩 설계 전체 과정 중, 본 과정은 Front – End 과정을 다루는데 초심자의 눈높이에 맞추어 이론과 실습을 진행함. 기존의 Front-End 강좌에 Verdi Verification과정을 추가하여 새롭게 업데이트 했습니다 - IC Compiler 를 이용한 Layout 방법을 소개하고 Back-end 과정 진행 시 주의 사항에 대해서 학습할 수 있도록 합니다. [사전지식] 디지털 논리회로..
반도체 패키징 공정 반도체 패키징 공정을 대략적으로 살펴보면 다음과 같다. ① Back Grinding 공정 : 전공정에서 가공된 웨이퍼의 후면을 얇게 갈아내는 공정 ② Sawing(Dicing) 공정 : 웨이퍼를 개별 단위(net die)로 잘라내는 공정 ③ Die Attaching 공정 : 회로기판(substrate)에 칩을 붙여 고정하는 공정 ④ Wire Bonding : Gold Wire로 칩을 전기적으로 연결하는 공정 ⑤ Molding : EMC 물질로 칩이 실장된 기판을 감싸는 공정 ⑥ Marking : 레이저로 개별 제품에 제품 정보를 새기는 공정 ⑦ Solder Ball Mount : 회로기판에 솔더 볼을 붙여 아웃단자를 만드는 공정 ⑧ PKG Sawing : 모듈/보드/카드에 실장하도록 개별 반도체로 잘라내..
Free Cortex-M processors for Xilinx FPGAs Free Cortex-M processors for Xilinx FPGAs 블로그 기사 제목은 바로"Arm expands design possibilities with free Cortex-M processors for Xilinx FPGAs"https://www.arm.com/company/news/2018/10/arm-expands-design-possibilities-with-free-cortex-m-processors-for-xilinx-fpgas FPGA 시장이 점점 커질 것을 예상하고, arm에서 선제적으로 FPGA용 CortexM 시리즈를 무료로 배포한다.장점이야 링크 글에 있는 내용을 가져오면 머 당연한 말들이 적혀있다.Cortex-M1 이 원래 FPGA용 코어로 제공되고 있는 것으로 알고..
Timing sign-off corner Timing sign-off cornerLet us say, each minima/maxima in cell characteristics as ‘PVT corner’ and net characteristics as ‘extraction corner’. Each combination of PVT extraction corners is referred to as a ‘timing corner’ as it represents a point where timing will be extreme. http://vlsiuniverse.blogspot.kr/2014/01/timing-corners-dimensions-in-timing.html
ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음 ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음 여러군데, 혹은 여기에 단편적으로 적어두다 보니 목차같은 페이지가 없다. 좀 정리가 안되더라도 한 페이지에 모아서 저장해 두면 좋겠다 생각하던 차에 Github pages 를 이용하여 jekyll 블로그를 하나 만들어서 해당 페이지를 만들어 두었다. 업데이트 열심히 해야지 ASIC, SoC, 반도체, 설계 관련 글 모음 (http://devbj.com/asic/) ASIC ASIC Design Tutorials - 위키사이트, 전체흐름을 살펴보자. 설계, FPGA, 검증. HDL 설계에 사용되는 hdl 언어(VHDL, Verilog, SystemVerilog, …) 관련 자료를 모아두자. Verilog http://www.testbench.in/ - 테스트..