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IT/ASIC | FPGA

[Semicon] EOS Test, I-V Curve, 불량분석(Failure Analysis)

EOS 테스트 (Electrical Overstress)로 반도체 부품, 회로에 초과된 전자기적 신호 및 과전압에 의해 파괴된 부분을 알아내는 것인데...

ESD & EOS

Xray 검사 결과 회로의 단선이나 단락이 보이지 않아, VI Curve 를 측정해야 한다고 해서 알아본 것임.

원래는 먼저 EOS 검사하고, 문제 있는 것을 보기위해 Xray 나 파괴검사를 한다고 하네. 너무 쉽게 보고 접근한듯~~

 

그림이나 내용을 참조한 곳은 QRT 라는 테스트 업체고, 관련 자료는 로컬 보관

 

[QRT]EOS시험_설명자료.pdf
1.19MB